1、空氣熱老化試驗(yàn)箱在試品關(guān)閉電源的狀態(tài)下，先將溫度降低到-50℃，維持4個(gè)鐘頭;請(qǐng)勿在試品插電的情況下開(kāi)展超低溫檢測(cè)，十分關(guān)鍵，由于插電情況下，處理芯片自身便會(huì)造成20℃之上溫度，因此在插電情況下，一般較為易根據(jù)超低溫檢測(cè)，務(wù)必先將其“凍透”，再度插電開(kāi)展檢測(cè)。

　　2、啟動(dòng)，對(duì)試品開(kāi)展功能測(cè)試，比照特性與常溫下對(duì)比是不是一切正常。

 

　　3、開(kāi)展高低溫試驗(yàn)，觀查是不是有數(shù)據(jù)對(duì)比不正確。

 

　　4、升溫到90℃，維持4個(gè)鐘頭，與超低溫檢測(cè)反過(guò)來(lái)，提溫全過(guò)程持續(xù)電，維持處理芯片內(nèi)部的溫度-直處在高溫情況，4個(gè)小時(shí)后，實(shí)行2、3、4測(cè)試流程。

 

　　5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。

 

　如果空氣熱老化試驗(yàn)箱檢測(cè)全過(guò)程出現(xiàn)一次，不可以一切正常工作中的情況，則視為測(cè)試失敗。